亿万先生MR

28

2012

-

04

二零一二年閎康科技知識服務巡迴研討會——上海站

作者：

“Applications of ChemiSTEM in nano materials analyses”講座

 

    親愛的客戶，感謝大家過去十年對閎康科技的支持與愛護，2012 年閎康科技知識服務巡迴研討會亿万先生MR將介紹閎康具有競爭力的核心分析技術，着重在TEM/EDX成份分析技術及SIMS在LED與FAB領域分析應用的較新進展，在此誠摯地邀請您的參與，期待與各位先進相互切磋，歡迎蒞臨參加！感謝您對閎康的支持.                                                                                         

【主辦單位】：閎康科技股份有限公司

閎康技術檢測（上海）有限公司

【講座名稱】：Applications of ChemiSTEM in nano materials analyses

【講座時間】：2012年5月11日（9：00－－17：00）

【講座地點】：上海市張江高科技園區郭守敬路498號（浦東軟件園）1號樓2樓多功能廳

【交通方式】：地鐵2號線金科路站3號出口（沿金科路向北走到郭守敬路路口即可）

大橋五線，大橋六線，張江1路，636，778，張江環線等到浦東軟件園站

地圖如下：

         

【講座內容】：

1. MA-tek technical capability and tools capacity

2. Failure Analysis and cases study

3. Application of surface analyses ( SIMS, XPS, XRD, XRR, SRP, and FE-Auger) on IC and LED supply chain

4. Advanced applications of TEM/EDX - FEI Osiris in comparison with EELS and SIMS

 

【聯繫人】：夏露

【聯繫電話】：+86-21-50793616-7087 手機：+86-13818143271

【電子郵箱】：sales_sh@ma-tek.com

【講座方式】：中文授課，互動教學。

【講座費用】：人民幣500元/人（含午餐費，其它費用自理）

此次講座費用可抵扣2012.5.11—2013.6.30期間在閎康技術檢測（上海）有限公司的分析檢測費用

【付費方式】：銀行轉賬

l  開戶名稱：閎康技術檢測（上海）有限公司

l  開戶銀行：中國建設銀行股份有限公司上海高科路支行

l  賬號：31001661315050002643

l  發票內容：技術諮詢費

 

本次講座自2012年4月24日起接受報名，名額有限，報滿即止。

請回覆郵件報名，並在2012年5月8日前完成匯款以確認報名。

謝謝支持，敬請光臨。

 

閎康科技簡介：

閎康科技是集材料分析，結構分析，成分分析，失效分析，ESD和RA測試及分析於一身的全球領軍企業，已在台灣上市。我公司不但有世界*的高精尖的大型分析設備，而且還擁有以謝詠芬留美博士帶領的來自台灣聯電、台積電等知名IC企業的有豐富實踐經驗的*專家團隊為您解疑釋惑。

閎康於2008年榮獲台灣工業精銳獎，被認定為技術服務類標杆企業，是台灣目前單一能對集成電路設計公司進行一條龍服務的分析服務商。我公司不僅能為設計公司創立初期提供競爭力分析、電路修補、低合格率和漏電失效分析服務，而且在封裝、量產階段的ESD和可靠性測試及其後的失效分析、客戶退貨質量反饋、業務培訓和第三方鑑定等方面提供多方面支持。

閎康為客戶提供ESD方面的整體服務，可以提供打線（COB板或陶瓷封裝），快速封裝，各種規範的HBM、MM、CDM、Nonsocket-CDM、latch-up、TLP和動態LATCH-UP測試服務；在客戶不能通過ESD測試標準時，可以幫助客戶修改IP ROOM；更可以幫助客戶解決生產中遇到的ESD問題；較後還能幫助客戶找到ESD產生的故障點及失效原因。

 

演講者簡介：

名字

職稱

學經歷

謝詠芬 博士

總經理

■  清華大學材料科學與工程系 博士
■  AT&T Bell  實驗室博士後研究員
■  工業技術研究院電子所 研究員
■  聯華電子 QRA 部 經驗豐富經理
■  聯友光電 QM 部經理
■  友達光電 LCOS 處長

20 年以上相關產業經歷： IC(Si), TFT-LCD, LED(III-V, II-VI), LCOS, GaAs, Ge/ Metal contacts system.
專攻 TEM analysis, Fault isolation/Failure analysis, Analytical lab Operation, Quality management(QE, QA, QS, TQM), and Materials related fundamental research.

朱志勛 博士

技術長

■  清華大學材料科學與工程系 博士
■  AT&T Bell 實驗室博士後研究員
■  MVI 技術發展部經理
■  USIC 製程整合經驗豐富經理
■  聯華電子 Fab 8C 製程整合經驗豐富經理
■  聯華電子 Fab 8C 製程整合經驗豐富部經理
■  力旺電子技術發展副總經理
■  茂德 Advanced technology R&D center 處長
■  MVI SBU Director, Solar Cell

20 年以上相關產業經歷：IC(Si) technology and manufacturing, Compound semiconductor research and Nano-structure fabrication.
專攻IC process technology, Process integration, Yield improvement, TEM analysis, FIB, IC Failure analysis, Materials analysis, and Materials related fundamental research.

黃明清

表面分析處

■  成功大學化工研究所碩士 
■  Engineer, Material Analysis, National Nano Device Laboratory
■  Section manager, Failure Analysis Department, UMC

10 年以上經歷：surface analysis of IC(Si), TFT-LCD, LED, LCOS, GaAs, and Solar cell. 
專攻 SIMS, Auger, ESCA/XPS, Scanning Capacitance Microscopy, Atomic Force Microscopy, Magnetic Field Microscopy, and SRP.

鮑忠興 博 士

TEM處

■  Ph.D., Science& Engineering of Materials, Arizona State University, USA
■  Postdoctoral Research, Center for Solid State Science, ASU, USA
■  工研院材料所, Microstructure Analysis Department., 主任
■  聯華電子 MA/FA department, product division, 部經理
■  超泰科技 技 術顧問

20年以上產業經歷：專長材料分析,專 攻TEM分 析(including HRTEM, EDX and EELS).